JIS B7729-2005 Erichsen cupping testers
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ID： |
A54307375B374895AE5EB9A49E58D5E3 |
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文件大小(MB)： |
0.64 |
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页数： |
13 |
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文件格式： |
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日期： |
2010-1-13 |
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购买： |
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B 7729：2005,（1）,まえがき,この規格は，工業標準化法第14 条によって準用する第12 条第1 項の規定に基づき，日本試験機工業会,(JTM)／財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があ,り，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である,これによって，JIS B 7729:1995 は改正され，この規格に置き換えられる,改正に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日,本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，ISO 20482:2003，Metallic materials-Sheet,and strip-Erichsen cuping test を基礎として用いた,JIS B 7729 には，次に示す附属書がある,附属書1（参考）試験及び検査,附属書2（参考）JIS と対応する国際規格との対比表,B 7729：2005,（2）,目 次,ページ,1,1. 1,2. 1,3. 1,4. 1,5. 3,6. 3,7. 4,1 5,2 JIS 7,日本工業規格 JIS,B 7729：2005,エリクセン試験機,Erichsen cupping testers,この規格は，2003 年に発行されたISO 20482，Metallic materials-Sheet and strip-Erichsen cuping test を,翻訳し，技術的内容を変更して作成した日本工業規格である,なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格を変更している事項である。変更の一覧,表をその説明を付けて2（参考）に示す,1. この規格は，厚さ0.1～2 mm，及び幅90 mm 以上の金属薄板のエリクセン値を測定する試,験機について規定する。また，より厚い材料及び幅の狭い試験片については， 1 に示す特定の寸法のジ,グが規定されており，添字で区別する,1. この規格の対応国際規格を，次に示す,なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide21 に基づき，IDT（一致している），MOD（修,正している），NEQ（同等でない）とする,ISO 20482:2003，Metallic materials-Sheet and strip-Erichsen cupping test (MOD),2. 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す,る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する,JIS B 0031 製品の幾何特性仕様（GPS）―表面性状の図示方法,JIS B 1501 玉軸受用鋼球,JIS Z 2247 エリクセン試験方法,3.,3.1 試験片の全厚みを貫通し，また，その長さの一部を光が通過する幅のき裂である,4. 主要部の名称，記号及び単位は， 1 による。また，対応するエリクセン値記号は,標準試験用に定められている。より厚い材料，又はより薄い材料で，より狭い試験片に対しては，寸法d2,をその記号に加える,2,B 7729：2005,1 記号及び定義,単位 mm,試験片及びジグ寸法，並びにエリクセン値記号,記号 定義,標準試験 より厚い，又は狭い試験片での試験,IE エリクセン値記号 IE IE40 IE21 IE11,a 試験片の厚み 0.1以上,2 以下,2 を超え,3 以下,0.1 以上,2 以下,0.1 以上,1 以下,b 試験片の幅又は直径 90 90 55 以上,90 未満,30 以上,55 未満,d1 パンチ端の球状の直径 20±0.05 20±0.05 15±0.02 8±0.02,d2 ダイスの内径 27±0.05 40±0.05 21±0.02 11±0.02,d3 しわ押さえの内径 33±0.1 33±0.1 18±0.1 10±0.1,d4 ダイスの外径 55±0.1 70±0.1 55±0.1 55±0.1,d5 しわ押さえの外径 55±0.1 70±0.1 55±0.1 55±0.1,R1 ダイスの外側かどの丸み半径及び,しわ押さえの外側かどの丸み半径,0.75±0.1 1.0±0.1 0.75±0.1 0.75±0.1,R2 ダイスの内側かどの丸み半径 0.75±0.05 2.0±0.05 0.75±0.05 0.75±0.05,h1 ダイスの内側円筒部長さ 3.0±0.1 6.0±0.1 3.0±0.1 3.0±0.1,h 試験中のくぼみの深さ － － － －,試験片の幅又は直径が90mm で，JIS Z 2247 に規定する公差範囲内のものについては，標準試験ジグで試験し,てもよいこととする,ｂ,ｄ4,ｄ2,ｄ1,ｄ3,R1,R1,ｄ5,IE,h,a,h1,R2,エリクセン,パンチ,しわ押え,ダイス,試験片,試験片接触面,3,B 7729：2005,5. この試験機では，しわ押さえとダイスとの間に固定された試験片に貫通き裂が発生するまで,球状端のパンチを押し付けることによりくぼみを形成させる。そのくぼみの測定深さは，パンチの移動量,に基づく試験結果である,6. 試験機の構造及び標準試験に,用いるジグの形状，寸法及び仕上げ程度は，次による,a) 試験機は， 1 に示した寸法及び許容差をもつダイス，パンチ及びしわ押さえを備えていなければな,らない,b) 試験機は，試験の間，貫通き裂が生じる瞬間を確認するために，試験片の外観を観察できるものでな,……
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